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測定上の問題を避ける
調子 | 効果 | 提案 |
テスト中の デバイス (DUT)に 適用される電力 | 抵抗成分の自己発熱は、温度効果および対応する抵抗変化を引き起こす。 | - 低いテスト信号またはパルス測定を使用してください。
- DUTをヒートシンクします。
- 抵抗力係数の影響を許容する。
- 低電力係数のコンポーネントを使用します。
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DUTに印加される高電圧 | いくつかの高抵抗抵抗器は、大きな抵抗電圧係数を有する。 | - 低電圧係数の部品を使用してください。
- 低電圧で測定する。
- 抵抗の電圧係数の影響を考慮してください。
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周囲温度 | 温度係数の影響;可能なパーマネントリトレース効果は、大きな輸送または貯蔵温度のシフトに起因する可能性がある。 | - 安定した温度を維持し、極端な温度に晒さないようにしてください。
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湿度 | 湿気は、高抵抗部品に漏れの影響を与える可能性があります。 | |
熱気 | 熱輻射線、すなわち温度勾配で異種金属の接点で発生する電圧は、誤った電圧および抵抗の測定を引き起こす可能性がある。 | - Cuを使用してください。 Cuへ。可能な限りコンタクトとリード線。銀の接点とはんだは許容されます。
- スチールと真鍮を使用しないでください。
- 温度勾配またはドラフトを最小限に抑えます。
- スイッチ式または「真のオーム」測定器を使用する。
- 代替リードを使用して、問題の程度を判断します。
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低抵抗 | リード線の抵抗と熱起電力によりエラーが発生する可能性があります。 | - 4線測定、ケルビンリードを使用してください。
- サーマルエミュ(上記)を参照してください。
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高抵抗 | 湿気のために鉛の断熱材やベンチトップを通って漏れると、間違いの原因となることがあります。 | - テフロン(登録商標)
- 高断熱サブプレートにDUTを設定します。
- すべての端末を清潔に保ちます。
- シールドと高電圧と近くの動きを避ける。
- 5または6端子ガード回路を使用してください。
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グラウンドループ | グランド電流はノイズとオフセット電圧を発生させます。 | - 放射状の地面を使用して1つの参照点にのみ使用します。
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試験条件 | ほとんどの抵抗、コンデンサ、インダクタは理想的ではありません。巻線抵抗は誘導性と容量性の両方を持ちます。コンデンサには損失があり、インダクタは非常に抵抗性があります。電圧、周波数、モデル(並列または直列)の試験条件は、測定にとって重要な場合があります。 | - DUTの最も代表的なモデルである機器の試験条件を適用します。
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